太阳电池モジュールの电圧诱起劣化を简便?低コストで抑制する方法を発明

2019.03.14

　工学部電気電子?情報工学科の大橋史隆助教らは，メガソーラー発電施設で最も普及している結晶シリコン系太陽電池モジュールの発電能力を短期に大幅に劣化させる現象である「電圧誘起劣化（Potential Induced Degradation）」（以下「PID」）を，簡便?低コストで抑制する方法を発明しました。大橋助教らは，太陽電池モジュールに液体ガラスで作製したガラス層を挿入し，セルを包む封止材（EVA）とカバーガラスの間にガラス層を挿入した場合，ガラス層がない場合と比べて，顕著なPID抑制効果を確認しました。また，ガラス層をカバーガラスの表面に挿入した場合でもPID抑制効果を確認しました。
　本発明は，太阳电池モジュールの生产工程における笔滨顿抑制加工や，设置済みのメガソーラー発电施设における笔滨顿抑制対策に繋がると期待されます。

辫型结晶シリコン系太阳电池モジュールの断面构造およ
び笔滨顿の発生メカニズム（クリックすると拡大します）

太阳电池モジュールに挿入した液体ガラスにより作製したガラス层
の配置（クリックすると拡大します）

本研究成果のポイント

太阳电池モジュールに液体ガラスで作製したガラス层を挿入し，セルを包む封止材（贰痴础）とカバーガラスの间にガラス层を挿入した场合，ガラス层がない场合と比べて，顕着な笔滨顿抑制効果を确认した。
本発明による笔滨顿抑制技术は，太阳电池モジュールの部材や构造を大きく変えずに导入することができる。
太阳光発电システムの寿命延长，発电コスト低减に直结し，太阳光発电の普及の一助となることが期待される。